شرکت بروکر فناوری جدیدی به بازار عرضه کرده است که می‌تواند با سرعت بالا از سطوح مختلف تصویربرداری کند و این فناوری سرعت و دقت تصاویر نانومتری از یک سطح وسیع را افزایش می‌دهد.
به گزارش دیده بان علم ایران شرکت بروکر (Bruker) اعلام کرد که سیستم نانومترولوژی جدید خو موسوم به FastScan Pro که مربوط به دستگاه AFM این شرکت است، به بازار عرضه کرده است. این ابزار پیش از این تنها توسط محققان متخصص حوزه AFM در آزمایشگاه‌های تحقیقاتی به کار گرفته می‌شد. نتایج به دست آمده از آن تکرارپذیری بالایی داشته است.
این ابزار با فناوری روبش سریع و بدون نویز بروکر ترکیب شده و در نهایت دستگاهی به دست آمده که می‌تواند با سرعت بالا و با کمترین نویز اطلاعات را ارائه کند.
FastScan Pro به یک نرم‌افزار جامع خودکار نیز مجهز است که می‌تواند فرآیند تصویربرداری را تسهیل کند. این فناوری کاربر را قادر می‌سازد تا با استفاده از نگهدارنده (هولدر) بزرگ امکان بررسی سریع سطح وسیعی از نمونه را داشته باشد.
مارکو تورتونیز از مدیران شرکت بروکر می‌گوید: «بروکر منبع خلاقیت در حوزه میکروسکوپی بوده و فناوری‌های پیچیده جالب توجهی به بازار عرضه کرده است. FastScen Pro یک ابزار با امکان کار سریع روی یک سطح وسیع است. با این فناوری می‌توان فرآیند تصویربرداری را ده برابر سریع‌تر انجام داد. این فناوری کاربر را قادر می‌سازد تا بیش از پانصد تصویر را از یک پیمایشگر به دست آورد. این دستاورد برای بخش کنترل کیفی شرکت‌های تولید کننده نانومحصول بسیار جالب توجه است.»
این فناوری دقت تصویربرداری در نواحی عمیق را افزایش داده و می‌تواند تصاویر بهتری در مقیاس نانومتری به دست آورد. نرم‌افزار مورد استفاده در این سیستم نیز کیفیت کار را به شکل قابل توجهی افزایش می‌دهد. در نرم‌افزار این ابزار، بانک اطلاعاتی کانتالیور (تیرک) برای تنظیم خودکار وجود دارد و امکان کنترل سریع و ایمن نوک را در AFM فراهم می‌کند. این فناوری برای استفاده در مترولوژی نیز بسیار مناسب است.
انتهای پیام